This website works best with JavaScript enabled
  • О компании
  • Телефоны, схема проезда.
  • Сертификаты
  • Прайс-лист, цены.
  • Телефон: (347) 294-17-77
  • Почта: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
  • Российский изготовитель гибких металлорукавов в Уфе.
  • Производство и продажа сильфонных устройств и фильтров.
  • Продажа металлопроката - на сайте Торгового Дома.
  • В цеховых условиях для контроля чистоты поверхности при изготовлении большого количества деталей очень часто применяется метод сравнения с образцами чистоты, которые должны быть изготовлены из того же материала и тем же технологическим методом, что и контролируемая деталь.

    Методы определения классов чистоты поверхности.

    Чистота поверхности таких образцов должна быть определена в лаборатории при помощи одного из приборов и соответствовать грубому пределу того класса чистоты, для контроля которого предназначен образец.

    Удобно в качестве образцов использовать одну из деталей партии. Сопоставление исследуемых поверхностей с образцами невооруженным глазом может с успехом производиться лишь при чистоте поверхностей не выше 6 - го класса чистоты. При контроле поверхностей 7 - 9 - го классов сравнение удобно производить при помощи лупы или микроскопа сравнения.

    Микроскоп сравнения состоит из тубуса, в нижней части которого расположен осветитель и держатель для образца. При работе микроскоп устанавливается непосредственно на исследуемую поверхность. Лампа осветителя одновременно освещает исследуемую поверхность и образец. Благодаря полупрозрачному зеркальцу, установленному перед объективом микроскопа, в поле зрения одновременно видна поверхность детали и образца. Микроскоп сравнения дает возможность в цеховых условиях производить оценку чистоты поверхности значительно точнее, чем невооруженным глазом.

    Приборы для измерения чистоты поверхности можно разделить на две группы:

    1) приборы, основанные на принципе ощупывания исследуемой поверхности при помощи алмазной иглы (профилометры, профилограф - профилометр);

    2) приборы, основанные на оптическом методе (двойной микроскоп, микроинтерферометр и др.).

    Рассмотрим принцип работы и область применения некоторых приборов.

    Двойной микроскоп предназначен для измерения микронеровностей 3 - 9 - го классов чистоты на наружных плоских и цилиндрических поверхностях.

    Действие двойного микроскопа основано на принципе светового сечения. Метод светового сечения заключается в том, что при освещении поверхности узким пучком лучей из правого осветительного тубуса, расположенного к поверхности под некоторым углом, световая полоска будет наблюдаться через левый микроскоп в виде ломаной линии. Эта ломаная световая полоска представляет собой след пересечения освещаемой поверхности плоскостью светового потока. Величина искривления может быть измерена окулярным микрометром микроскопа. На основании нескольких измерений высот отдельных гребешков по формуле может быть подсчитана шероховатость.



    #fc3424 #5835a1 #1975f2 #2fc86b #f_syc9 #eef77 #020614063440
    Яндекс.Метрика